文献
J-GLOBAL ID:201102211755850358   整理番号:11A1194585

一度の走査で横きずと縦きずの検出を志向した一様渦電流プローブによる溶接部表面探傷に関する研究

Surface Flaw Testing of Weld Zones using a Uniform Eddy Current Probe Intended to Detect Longitudinal and Transversal Flaws by Single Scanning
著者 (3件):
資料名:
巻: 60  号:ページ: 275-282  発行年: 2011年05月01日 
JST資料番号: G0027A  ISSN: 0367-5866  CODEN: HIHKA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
本文では,溶接部表面の横きずと縦きずの両方をプローブの一度の走査で検出するための一様渦電流プローブを提案し,溶接部の渦電流探傷の研究結果について述べた。提案した一様渦電流プローブは,溶接部の幅よりも長い矩形縦置きの励磁コイルと長方形の検出コイルから構成される。溶接部による雑音を小さく,溶接部表面のきずを一度の走査で検出するために,一様渦電流プローブの励磁コイル巻線を溶接部に対して垂直に配置して溶接部上を溶接方向に走査する。得られた知見は次の通りである。1)溶接幅よりも長い矩形縦置の励磁コイルと長方形の検出コイルとした一様渦電流プローブを溶接部に対して励磁コイル巻線を垂直方向にして走査すれば,横きずと縦きずを一度の走査で検出できることを確認した。2)鋼材の溶接部の様に磁性体では,横きずは主に磁束の変化で,縦きずは主に渦電流の変化で検出する。3)余盛りの研磨された溶接部においては,溶接部による雑音が小さくSN比で2.0以上と高くきず検出が行えた。4)余盛りのある溶接部においては,余盛りの形状変化に伴う溶接部による雑音が発生するが,溶接部止端の縦きずを除いてSN比で1.8以上と良好にきず検出を行えることを確認した。
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
非破壊試験 

前のページに戻る