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J-GLOBAL ID：201102212466129809   整理番号：11A1270453

軟X線分光法により研究したKH₂PO₄単結晶の電子構造

Electronic Structure of KH₂PO₄ Single Crystal Studied by Soft-X-Ray Spectroscopy

著者 (9件)： NISHINA Tetsuya (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  HIGUCHI Tohru (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  MAGOME Eisuke (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  VELASCO Poul Olade (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  CHEN Jeng Long (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  YANG Wang Li (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  GUO Jinghua (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  FUKUNAGA Masanori (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  KOMUKAE Masaru (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
資料名： Ferroelectrics  (Ferroelectrics)
巻： 416  ページ： 478-482  発行年： 2011年06月 
JST資料番号： D0777A  ISSN： 0015-0193  CODEN： FEROA8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： T_Cを含む300Kから110Kまでの数点でO K端からの電子励起を用いてX線吸収分光法(XAS)と軟X線放出分光法(SXES)によりKH₂PO₄(KDP)単結晶の電子構造を測定した。KDP単結晶は低速蒸発法により成長させた。300,140,130,125,120そして110KでXASおよびSXESスペクトルを測定した。500から550eVまでの蛍光エネルギー範囲において光子の部分的蛍光収量によりXASを測定した。SXES測定では観測したエネルギーは515と535eVの間だった。電子構造と強誘電相転移間に関係が存在することを明らかにするためにO原子のK吸収端周辺でXASを行なった。T_Cの上下で電子構造の温度依存性を測定した。相転移温度で電子構造の明らかな違いを明確に観測した。

シソーラス用語： 軟X線 ,  *X線分光法 ,  *リン酸二水素カリウム ,  単結晶 ,  X線吸収分光法 ,  スペクトロスコピー ,  蛍光X線分析 ,  *誘電転移 ,  *強誘電体 ,  *電子構造 ,  温度依存性 ,  分析
準シソーラス用語： *軟X線分光法 ,  軟X線放出分光法

分類 (1件)： X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (5件)： 軟X線 ,  分光法 ,  研究 ,  単結晶 ,  電子構造