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J-GLOBAL ID：201102216039271284   整理番号：11A1882245

低周波磁気検査によるステンレス溶接の欠陥評価

著者 (6件)： 林孝之 (岡山大) ,  林孝之 (パルステック工業) ,  山田博信 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  玉積正司 (宇野工業) ,  塚田啓二 (岡山大)
資料名： 日本応用磁気学会学術講演概要集  (Digest of the Annual Conference on Magnetics in Japan)
巻： 31st  ページ： 170  発行年： 2007年09月11日 
JST資料番号： Y0056A  ISSN： 1340-8100  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *磁気検査 ,  LF【周波数】 ,  *渦電流検査 ,  検査 ,  *交流磁場 ,  *表面欠陥 ,  *欠陥検査 ,  磁気測定 ,  SN比 ,  *磁気抵抗素子 ,  *ステンレス鋼 ,  *溶接欠陥 ,  ガスシールドアーク溶接 ,  *欠陥
準シソーラス用語： 渦電流探傷法

分類 (2件)： 磁気の計測法・機器  (AD07060U) ,  非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 低周波 ,  磁気検査 ,  ステンレス ,  溶接 ,  欠陥 ,  評価