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J-GLOBAL ID：201102218316216345   整理番号：11A0340454

Ge/Siナノ構造の局所構造:XAFS分光学の特徴

Local structure of Ge/Si nanostructures: uniqueness of XAFS spectroscopy

著者 (13件)： KOLOBOV Av ,  OYANAGI H ,  FRENKEL A ,  ROBINSON I ,  CROSS J ,  WEI S ,  BRUNNER K ,  ABSTREITER G ,  MAEDA Y ,  SHKLYAEV A ,  ICHIKAWA M ,  YAMASAKI S ,  TANAKA K
資料名： NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS
巻： 199  ページ： 174-178  発行年： 2003年 
JST資料番号： O5033A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： Ge ,  Si ,  ナノ構造 ,  局所構造 ,  XAFS ,  分光学