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J-GLOBAL ID：201102220550638487   整理番号：11A1421546

放射線誘導性耐欠損性の測定結果に基づき最適にドープされたLa_2-xSr_xCuO₄の電気輸送モデルに対する制約

Constraints on Models of Electrical Transport in Optimally Doped La_2-xSr_xCuO₄ from Measurements of Radiation-Induced Defect Resistance

著者 (10件)： CLAYHOLD J. A. (Miami Univ., Dep. of Physics, 45056, Oxford, OH, USA) ,  PELLEG O. (Brookhaven National Lab., 11973-5000, Upton, NY, USA) ,  INGRAM D. C. (Ohio Univ., Dep. of Physics and Astronomy, 45701, Athens, OH, USA) ,  BOLLINGER A. T. (Brookhaven National Lab., 11973-5000, Upton, NY, USA) ,  LOGVENOV G. (Brookhaven National Lab., 11973-5000, Upton, NY, USA) ,  RENCH D. W. (Miami Univ., Dep. of Physics, 45056, Oxford, OH, USA) ,  KERNS B. M. (Miami Univ., Dep. of Physics, 45056, Oxford, OH, USA) ,  SCHROER M. D. (Miami Univ., Dep. of Physics, 45056, Oxford, OH, USA) ,  SUNDLING R. J. (ZenSoft Inc., 53705, Madison, WI, USA) ,  BOZOVIC I. (Brookhaven National Lab., 11973-5000, Upton, NY, USA)
資料名： Journal of Superconductivity and Novel Magnetism  (Journal of Superconductivity and Novel Magnetism)
巻： 23  号： 3  ページ： 339-342  発行年： 2010年04月 
JST資料番号： W0180A  ISSN： 1557-1939  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 放射線 ,  耐欠損性 ,  測定結果 ,  ドープ ,  電気輸送 ,  モデル ,  制約