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J-GLOBAL ID：201102222378531759   整理番号：11A0951839

多層誘電体の非破壊試験のための可搬形マイクロ波干渉走査システムの最適化

OPTIMIZATION OF A PORTABLE MICROWAVE INTERFERENCE SCANNING SYSTEM FOR NONDESTRUCTIVE TESTING OF MULTI-LAYERED DIELECTRIC MATERIALS

著者 (5件)： SCHMIDT K.F.,Jr. (Evisive, Inc., Louisiana, USA) ,  LITTLE J.R.,Jr. (Evisive, Inc., Louisiana, USA) ,  ELLINGSON W.A. (Argonne National Lab., Illinois, USA) ,  FRANKS L.P. (US Army Res. and Dev. Command Tank Automotive Res. Dev. and Engineering Center, Michigan, USA) ,  GREEN W. (US Army Res. Lab., Maryland, USA)
資料名： Ceramic Engineering & Science Proceedings  (Ceramic Engineering & Science Proceedings)
巻： 31  号： 5  ページ： 47-56  発行年： 2010年 
JST資料番号： E0760B  ISSN： 0196-6219  CODEN： CESPDK  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： セラミックス製装甲パネルには製造時の欠陥の他に使用時の衝撃等により欠陥を生じる場合がある。Erciveマイクロ波干渉走査技術は高性能セラミックス製装甲パネルの検査に用いられている。この技術を用いた可搬形マイクロ波干渉走査システムを開発し,多層誘電体の内部欠陥を非破壊試験で調べた。可搬形マイクロ波干渉走査システムの概要と操作法を示した。プローブ(送信機と受信アンテナ)を動かし,欠陥によるマイクロ波干渉パターンをラップトップコンピュータ画面に表示する。予め導入した種々の欠陥を非破壊で調べた。

シソーラス用語： *多層構造 ,  *誘電体 ,  *セラミック ,  材料 ,  欠陥 ,  *非破壊検査 ,  *可搬型 ,  *マイクロ波 ,  *走査装置 ,  *干渉 ,  最適化 ,  パネル
準シソーラス用語： 装甲材料 ,  非破壊試験

分類 (2件)： 誘電体一般  (BM05010F) ,  セラミック材料試験  (HB04000M)

タイトルに関連する用語 (7件)： 多層 ,  誘電体 ,  非破壊試験 ,  マイクロ波 ,  干渉 ,  走査システム ,  最適化