交流プラズマディスプレイパネルにおいて陰極MgO保護層表面上に蓄積する正壁電荷による放電遅延時間の改善

YOSHINO Kyohei; YOSHINO Kyohei; NAGATOMI Takaharu; MORITA Yukihiro; MORITA Yukihiro; OUE Toshiyasu; KOSUGI Naoki; NISHITANI Mikihiko; NISHITANI Mikihiko; KITAGAWA Masatoshi; TAKAI Yoshizo

文献

J-GLOBAL ID：201102223878413767 整理番号：11A0571830

交流プラズマディスプレイパネルにおいて陰極MgO保護層表面上に蓄積する正壁電荷による放電遅延時間の改善

Improvement in Discharge Delay Time by Accumulating Positive Wall Charges on Cathode MgO Protective Layer Surface in Alternating-Current Plasma Display Panels

出版者サイト {{ this.onShowPLink() }} 複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=11A0571830&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=11A0571830&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0520B") }}

著者 (11件)： , , , , , , , , , ,
資料名：
巻： 50 号： 2 ページ： 026201.1-026201.10 発行年： 2011年02月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

プラズマディスプレイパネル(PDP)において陰極MgO保護層表面に蓄積する正壁電荷による放電遅延時間の改善を調べた。放電をトリガする陰極MgO表面から放出されるエキソ電子の数は,陰極MgO表面上に正壁電荷が蓄積すると共に増大し,そのためアドレス放電の統計及び形成遅延時間t_s,t_f両方が短くなる。エキソ電子放出とt_s,t_fとの相関を調べ,アドレス放電が多数のエキソ電子によりトリガされることを明らかにした。また,アドレス放電中の壁電荷漏れでエキソ電子放出が重要な役割を果たすことを見いだした。これら結果から,陰極MgO保護層表面での正壁電荷蓄積は,PDPだけでなく良く使われる誘電体障壁放電において放電遅延時間t_s,t_fを改善するのに有効であることが確かめられた。(翻訳著者抄録)

, , , , , ,
, , , ,

気体放電 , 表示機器

引用文献 (33件)：

T. Shinoda, M. Wakitani, and K. Yoshikawa: Denshi Joho Tsushin Gakkai Ronbunshi CII J81-CII (1998)349 [in Japanese].
L. B. Loeb: Rev. Mod. Phys.20(1948)151.
R. A. Wijsman: Phys. Rev.75(1949)833.
Q. Yan, N. Kosugi, Y. Oe, H. Tachibana, and L. F. Weber: Tech. Dig. Information Display Workshop, 2006, p. 359.
S. Ho, S. Nobuki, N. Uemura, S. Mori, T. Miyake, K. Suzuki, Y. Mikami, M. Shiiki, and S. Kubo: J. Appl. Phys.106(2009)014911.

, , , , , , , ,

前のページに戻る