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J-GLOBAL ID：201102227672939326   整理番号：11A0796579

High-T_CSQUIDを用いた太陽電池パネル非破壊検査

著者 (10件)： 紀和利彦 (岡山大) ,  前田敏志 (岡山大) ,  三宅康介 (岡山大) ,  片岡伸夫 (岡山大) ,  堺健司 (岡山大) ,  塚本晃 (国際超電導産業技研セ 超電導工研) ,  安達成司 (国際超電導産業技研セ 超電導工研) ,  田辺圭一 (国際超電導産業技研セ 超電導工研) ,  神鳥明彦 (日立 基礎研) ,  塚田啓二 (岡山大)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 58th  ページ： ROMBUNNO.25P-KJ-20  発行年： 2011年03月09日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 臨界温度 ,  *SQUID ,  高温超伝導体 ,  *非破壊検査 ,  *太陽電池 ,  電流分布 ,  磁場測定 ,  磁気測定 ,  磁場分布

分類 (1件)： Josephson接合・素子  (BM04043E)

タイトルに関連する用語 (2件)： 太陽電池パネル ,  非破壊検査