文献

J-GLOBAL ID：201102229885107092   整理番号：11A1811476

暗号モジュールに対する非侵襲的なEMIベースの故障注入攻撃

Non-Invasive EMI-Based Fault Injection Attack against Cryptographic Modules

著者 (6件)： HAYASHI Yu-ichi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  HOMMA Naofumi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SUGAWARA Takeshi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MIZUKI Takaaki (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  AOKI Takafumi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SONE Hideaki (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility  (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility)
巻： 2011 Vol.2  ページ： 763-767  発行年： 2011年 
JST資料番号： E0041A  ISSN： 2158-110X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 操作の混乱や物理構造の損傷なしに,電気装置の情報漏洩を引き起こす新型の意図的電磁干渉(IEMI)について述べた。特定の正弦波を用いたIEMIベースの故障注入は,既製の注入プローブを用いて,攻撃の確かな証拠を残さずに遠隔実施できる。IEMI技術実装の目的は,中間結果のビット反転であり,それはリセット後または操作終了後に回復することができる。ここでは,暗号モジュール評価に広く用いられるサイドチャネル攻撃標準評価ボード(SASEBO)に実装したAES暗号モジュールを用いた実験により,IEMIベースの差分故障解析攻撃を明らかにした。実験結果から,それは有効な故障発生が可能であり,その種のIEMIが,秘密通信や取引の暗号モジュールを用いた多くの電気装置やシステムに対する現実の脅威になることを示した。

シソーラス用語： *注入 ,  電気装置部品 ,  漏れ ,  *電磁干渉 ,  正弦波 ,  *暗号装置 ,  故障解析 ,  国家規格 ,  情報セキュリティ ,  プリント基板 ,  サイバー攻撃
準シソーラス用語： AES【規格】 ,  サイドチャネル攻撃 ,  暗号攻撃 ,  *故障注入 ,  故障発生 ,  情報漏洩 ,  評価ボード

分類 (3件)： 雑音一般  (ND04010J) ,  符号理論  (ND02030R) ,  データ保護  (JD01020V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 暗号モジュール ,  非侵襲 ,  EMI ,  故障注入 ,  攻撃