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J-GLOBAL ID：201102231351191505   整理番号：11A0479092

小型全反射蛍光X線分析装置を用いた微量カドミウム分析

Analysis of Nanograms of Cadmium Using a Portable Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer

著者 (3件)： 国村伸祐 ((独)理化学研究所基幹研究所大森素形材工学研究室) ,  TEE Deh Ping (京都大学大学院工学研究科材料工学専攻) ,  河合潤 (京都大学大学院工学研究科材料工学専攻)
資料名： 鉄と鋼
巻： 97  号： 2  ページ： 81-84 (J-STAGE)  発行年： 2011年 
JST資料番号： F0332A  ISSN： 0021-1575  CODEN： TEHAA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 著者らは,既に開発した自然空冷式X線管式のバンディー全反射蛍光X線分析装置による検出感度は原子吸光分析法や,誘導結合プラズマ質量分析法と同程度であることを確認している。本研究では,既報のハンディー全反射蛍光X線分析装置を用いたカドミウムの検出下限,定量性について報告した。実験では,10ppmカドミウム標準溶液からを調製した10ngのカドミウムを含む試料を用い,モリブデン箔製一次X線フィルターの使用有無別の検出感度への影響,並びに積算時間(300~800秒間)と検出下限との関係を調べた。以下の結果を得た。(1)一次X線フィルターの使用有無別での検出下限に変化はなかった。(2)測定時間の延長によるカドミウムの検出下限を改善でき,1800秒間の測定で1ngの検出下限を達成した。(3)カドミウム重量が10~1010ngの範囲で直線性の良い検量線を得ることができた。

シソーラス用語： *蛍光X線分析 ,  分析機器 ,  感度 ,  能力 ,  *カドミウム ,  時間 ,  フィルタ ,  X線 ,  微量元素 ,  *検量線 ,  *全反射蛍光X線分析 ,  検出能
準シソーラス用語： 検出感度 ,  測定時間 ,  *微量成分分析 ,  分析装置

分類 (1件)： 無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H)

引用文献 (13件)：

• 1) R.Klockenkämper: Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis, Wiley, New York, (1997).
• 2) P.Wobrauschek: X-Ray Spectrom., 36 (2007), 289.
• 3) A.von Bohlen: Spectrochim. Acta, B64 (2009), 821.
• 4) P.Wobrauschek, R.Görgl, P.Kregsamer, C.Streli, S.Pahlke, L.Fabry, M.Haller, A.Knochel, and M.Radtke: Spectrochim. Acta, B52 (1997), 901.
• 5) K.Sakurai, H.Eba, K.Inoue and N.Yagi: Anal. Chem., 74 (2002), 4532.

タイトルに関連する用語 (3件)： 全反射蛍光X線分析 ,  カドミウム ,  分析