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J-GLOBAL ID:200902186481192429   整理番号:02A0772760

効率JohanssonスペクトロメータおよびアンジュレータX線源を用いた波長分散全反射蛍光X線分析 10-16g濃度の痕跡金属の検出

Wavelength-Dispersive Total-Reflection X-ray Fluorescence with an Efficient Johansson Spectrometer and an Undulator X-ray Source: Detection of 10-16 g-Level Trace Metals.
著者 (4件):
資料名:
巻: 74  号: 17  ページ: 4532-4535  発行年: 2002年09月01日 
JST資料番号: A0395A  ISSN: 0003-2700  CODEN: ANCHAM  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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全反射蛍光X線分析(TXRF)の検出能を著しく増強する方法を...
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