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J-GLOBAL ID:201102231423006716   整理番号:11A0553933

動作温度の高いMCT光導体検出器の信頼性の研究

Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors
著者 (4件):
資料名:
巻: 7658  号: Pt.2  ページ: 765849.1-765849.8  発行年: 2010年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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動作温度の高いテルル化カドミウム水銀(MgCdTe:MCT)赤外光導体検出器の信頼性を調べた。活性領域が800×800μm2の検出器をBridgman法で作製し,表面を不動態化して性能と信頼性を向上させた。動作温度の影響と湿度の影響の間に有意な差を認めた。湿度はチップ接着及び不動態化層の安定性に有意に影響し,表面損傷には強く相関しなかった。一般に見られる故障モードを考慮して特別の試験構造を設計し,検出器の信頼性を向上させた。加速試験を行い,検出器の寿命を推定した。
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分類 (1件):
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赤外・遠赤外領域の測光と光検出器 
タイトルに関連する用語 (5件):
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