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J-GLOBAL ID：201102235861256119   整理番号：11A0000719

Bismuth薄膜のトッピングにより2ω法の測定感度を高める方法

著者 (2件)： 加藤良三 (物材研) ,  XU Yibin (物材研)
資料名： Thermophysical Properties  (Thermophysical Properties)
巻： 31st  ページ： 306-308  発行年： 2010年11月17日 
JST資料番号： X0031A  ISSN： 0911-1743  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *金属薄膜 ,  絶縁材料 ,  *熱抵抗 ,  *熱伝導率 ,  熱反射率 ,  ビスマス ,  絶縁体
準シソーラス用語： *界面熱抵抗

分類 (1件)： その他の熱的変量の計測法・機器  (AD06040R)

引用文献 (9件)：

• KATO, R. Proc. 23 Jpn. Symp. Thermophys. Prop., 2002. 2002, 265-267
• KATO, R. Proc. 24 Jpn. Symp. Thermophys. Prop., 2003. 2003, 258
• KATO, R. Int. J. Thermophys. 2005, 26, 179
• WANG, H. Materials transaction. 2007, 47, 8, 1894-1897
• KATO, R. Int. J Thermophys. 2008, 29, 179

タイトルに関連する用語 (2件)： 薄膜 ,  測定感度