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J-GLOBAL ID：201102247010652818   整理番号：11A1898724

マイクロステップDFA脆弱性推定の開発および評価

Development and evaluation of a microstep DFA vulnerability estimation method

著者 (3件)： KAMINAGA Masahiro (Fac. of Engineering, Tohoku-Gakuin Univ.) ,  SHIKODA Arimitsu (Fac. of Engineering, Tohoku-Gakuin Univ.) ,  YOSHIKAWA Hideki (Fac. of Engineering, Tohoku-Gakuin Univ.)
資料名： IEICE Electronics Express (Web)  (IEICE Electronics Express (Web))
巻： 8  号： 22  ページ： 1899-1904 (J-STAGE)  発行年： 2011年 
JST資料番号： U0039A  ISSN： 1349-2543  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近,ブロック暗号実行マイクロコントローラに故障注入を用いたラウンド低減差分故障解析(DFA)の各種攻撃方法が報告されているが,攻撃成功率の詳細な故障注入タイミング依存性を用いたラウンド低減DFA脆弱性の定量的評価法に焦点を当てた研究は僅かである。これはマイクロコントローラのセキュリティ改善に必要なため,ラウンド低減DFAに対してマイクロステップDFA脆弱性チャートおよび脆弱性推定量(VE)を用いた定量的評価方法を提案する。このVEは故障注入タイミングと攻撃成功率の対から成る。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 性質 ,  *故障解析 ,  *攻撃行動 ,  *秘密鍵暗号 ,  *マイクロコントローラ ,  注入 ,  *定量分析 ,  公開鍵暗号 ,  暗号 ,  コンピュータセキュリティ ,  *感受性 ,  ブロック暗号 ,  故障注入
準シソーラス用語： DES暗号 ,  差分故障解析 ,  脆弱性 ,  定量的評価

分類 (2件)： データ保護  (JD01020V) ,  符号理論  (ND02030R)

引用文献 (5件)：

• [1] D. Boneh, R. DeMillo, and R. Lipton, “On the Importance of Checking Cryptographic Protocols for Faults,” EUROCRYPT'97, LNCS 1233, pp. 37-51, 1997.
• [2] E. Biham and A. Shamir, “Differential Fault Analysis of Secret Key Cryptosystems,” Proc. CRYPTO'97, LNCS 1294, pp. 513-525, 1997.
• [3] S. P. Skorobogatov and R. Anderson, “Optical Fault Induction Attacks,” Proc. CHES 2002, Springer LNCS 2523, pp. 2-12, 2003.
• [4] H. Choukri and M. Tunstall, “Round Reduction Using Faults,” Proc. FDTC, pp. 13-24, 2005.
• [5] J. Park, S. Moon, D. Choi, Y. Kang, and J. Ha, “Differential Fault Analysis for Round-Reduced AES by Fault Injection,” ETRI Journal, vol. 33, no. 3, pp. 434-442, 2011.

タイトルに関連する用語 (5件)： DFA ,  脆弱性 ,  推定 ,  開発 ,  評価