反射率の角度依存からのナノ層の光学的性質および厚みの測定

BILENKO D. I.; SAGAIDACHNYI A. A.; GALUSHKA V. V.; POLYANSKAYA V. P.

文献

J-GLOBAL ID：201102260945743923 整理番号：11A1530166

反射率の角度依存からのナノ層の光学的性質および厚みの測定

Determination of optical properties and thickness of nanolayers from the angular dependences of reflectance

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巻： 55 号： 10 ページ： 1478-1483 発行年： 2010年10月
JST資料番号： E0952A ISSN： 1063-7842 CODEN： TEPHEX 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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