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J-GLOBAL ID：201102267474018365   整理番号：11A1133717

研究室用低輝度X線源による硬X線位相差顕微鏡法

Hard-X-ray Phase-Difference Microscopy with a Low-Brilliance Laboratory X-ray Source

著者 (5件)： KUWABARA Hiroaki (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  YASHIRO Wataru (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  HARASSE Sebastien (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  MIZUTANI Haruo (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  MOMOSE Atsushi (Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
資料名： Applied Physics Express  (Applied Physics Express)
巻： 4  号： 6  ページ： 062502.1-062502.3  発行年： 2011年06月25日 
JST資料番号： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低輝度X線源を用いる硬X線位相撮影顕微鏡法を開発した。顕微鏡は相互にインコヒーレントX線源の配列を創るソース格子,Fresnelゾーンプレート,透過格子,試料からなる。顕微鏡は距離により分離された反対符号を持つ試料の双パターンを示す画像を生成し,それを処理して位相画像を生成する。本方法は広く用いられているZernike位相コントラスト顕微鏡法により定量的に調べることが困難な非弱位相物体に対しても定量的であり,材料科学や生物科学の分野に大きな潜在的応用可能性を有する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *X線源 ,  *位相差顕微鏡 ,  硬X線 ,  *ゾーンプレート ,  画像 ,  位相格子
準シソーラス用語： *Fresnelゾーンプレート ,  位相画像 ,  透過格子

分類 (1件)： 光学顕微鏡,望遠鏡  (QF05050R)

引用文献 (34件)：

• SAKDINAWAT, A. Nat. Photonics. 2010, 4, 840
• FITZGERALD, R. Phys. Today. 2000, 53, 7, 23
• MOMOSE, A. Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, 6355
• NUGENT, K. A. Adv. Phys. 2010, 59, 1
• LEITENBERGER, W. Opt. Commun. 2000, 180, 233

タイトルに関連する用語 (5件)： 研究 ,  低輝度 ,  X線源 ,  硬X線 ,  位相差顕微鏡法