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J-GLOBAL ID：201102269465428731   整理番号：11A0794797

XFEL用Multi-Port CCD検出器の放射線耐性評価

著者 (13件)： 小野峻 (理研) ,  亀島敬 (理研) ,  桐原陽一 (理研) ,  初井宇記 (理研) ,  工藤統吾 (JASRI) ,  小林和生 (JASRI) ,  堀米利夫 (岡崎国立共同研究機構 分子科研) ,  HOLLAND Andrew (XCAM) ,  HOLLAND Karen (XCAM) ,  大沢仁志 (JASRI) ,  矢橋牧名 (理研) ,  西野吉則 (北大) ,  石川哲也 (理研)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 58th  ページ： ROMBUNNO.26P-EA-16  発行年： 2011年03月09日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電荷結合素子 ,  *放射線検出器 ,  *X線レーザ ,  *自由電子レーザ ,  *耐放射線性 ,  X線自由電子レーザ
準シソーラス用語： CCD ,  XFEL ,  放射線耐性

分類 (1件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (5件)： XFEL ,  CCD ,  検出器 ,  放射線耐性 ,  評価