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J-GLOBAL ID：201102275698225717   整理番号：11A0113676

in situキャラクタリゼーション技法によって反応中間体および触媒活性部位を特定する

Identifying reaction intermediates and catalytic active sites through in situ characterization techniques

著者 (2件)： FOSTER Andrew J. (Univ. Delaware, DE, USA) ,  LOBO Raul F. (Univ. Delaware, DE, USA)
資料名： Chemical Society Reviews  (Chemical Society Reviews)
巻： 39  号： 12  ページ： 4783-4793  発行年： 2010年12月 
JST資料番号： D0479B  ISSN： 0306-0012  CODEN： CSRVBR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 不均一系触媒反応における表面化学種および触媒構造の検討に用いられるin situ技法を解説した。表面化学種および反応中間体の検討手段としての和周波数発生および偏光変調赤外反射吸収分光法を含む赤外分光法ならびに固相NMR分光法,触媒の構造および化学的性質の検討手段としてのX線光電子分光法,X線吸収分光法(EXAFSおよびXANESを服務)を用いた検討事例を紹介した。表面化学種だけでなく試料内部にまで侵入するX線の特性も利用されている。

シソーラス用語： *触媒 ,  *その場観察 ,  *反応中間体 ,  *活性部位 ,  和周波数発生 ,  EXAFS ,  XANES ,  X線光電子スペクトル
準シソーラス用語： *不均一系触媒 ,  *触媒活性部位

分類 (2件)： X線スペクトル一般  (BM08101P) ,  不均一系触媒反応  (CB06100E)

タイトルに関連する用語 (4件)： キャラクタリゼーション ,  技法 ,  反応中間体 ,  触媒活性部位