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J-GLOBAL ID：201102277490890353   整理番号：11A0724397

ウィーン美術史博物館における美術品の研究に適応するXRF分光計の第2部開発(携帯用ART解析器)

PART II (Portable ART analyzer)-development of a XRF spectrometer adapted for the study of artworks in the Kunsthistorisches Museum, Vienna

著者 (10件)： BUZANICH G. (TU Vienna, Vienna, AUT) ,  WOBRAUSCHEK P. (TU Vienna, Vienna, AUT) ,  STRELI C. (TU Vienna, Vienna, AUT) ,  MARKOWICZ A. (Agency’s Lab. Seibersdorf, International Atomic Energy Agency, Seibersdorf, AUT) ,  MARKOWICZ A. (AGH Univ. Sci. and Technol., Krakow, POL) ,  WEGRZYNEK D. (Agency’s Lab. Seibersdorf, International Atomic Energy Agency, Seibersdorf, AUT) ,  WEGRZYNEK D. (AGH Univ. Sci. and Technol., Krakow, POL) ,  CHINEA-CANO E. (Agency’s Lab. Seibersdorf, International Atomic Energy Agency, Seibersdorf, AUT) ,  GRIESSER M. (Kunsthistorisches Museum, Vienna, AUT) ,  UHLIR K. (Kunsthistorisches Museum, Vienna, AUT)
資料名： X-Ray Spectrometry  (X-Ray Spectrometry)
巻： 39  号： 2  ページ： 98-102  発行年： 2010年03月 
JST資料番号： D0456B  ISSN： 0049-8246  CODEN： XRSPAX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (12件)： ウィーン ,  美術史 ,  博物館 ,  美術品 ,  研究 ,  適応 ,  XRF ,  分光計 ,  開発 ,  携帯用 ,  ART ,  解析