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J-GLOBAL ID：201102284714375529   整理番号：11A1179496

電界放出素子のin situ解析装置による電界放出電流ゆらぎの観察

Observation of Field Emission Current Fluctuation with In Situ Analyzer of Field Emission Devices

著者 (3件)： GOTOH Yasuhito (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KAWASAKI Michito (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  TSUJI Hiroshi (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名： Proceedings of the International Display Workshops  (Proceedings of the International Display Workshops)
巻： 17th  号： Vol.3  ページ： 2041-2044  発行年： 2010年 
JST資料番号： L4269A  ISSN： 1883-2490  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *電界放出 ,  原位置試験 ,  器具 ,  *電流変動 ,  電流電圧特性 ,  図化 ,  CCDカメラ
準シソーラス用語： *in situ試験 ,  プロット ,  *解析ツール ,  電流ゆらぎ

分類 (2件)： 表示機器  (NC06030Q) ,  熱電子放出,電界放出  (BM09020S)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電界放出素子 ,  解析装置 ,  電界放出 ,  電流ゆらぎ ,  観察