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J-GLOBAL ID：201102287275932490   整理番号：11A1417775

X線発光分光法を用いた吸収端評価

著者 (11件)： 伊藤嘉昭 (京大 化研) ,  重岡伸之 (京大 化研) ,  大橋浩史 (京大 化研) ,  杤尾達紀 (神戸大 理) ,  福島整 (物質・材料研究機構) ,  寺澤倫孝 (兵庫県大) ,  藤井達生 (岡山大) ,  蔭山博之 (産業技術総合研) ,  吉井賢資 (原研) ,  米田安宏 (原研) ,  二澤宏司 (理研)
資料名： 日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)
巻： 66  号： 2 第4分冊  ページ： 1001  発行年： 2011年08月24日 
JST資料番号： S0671B  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線分光分析 ,  *発光分析 ,  X線吸収端 ,  *固有X線 ,  *X線スペクトル ,  *X線発光分析
準シソーラス用語： *X線発光分光法

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (3件)： X線発光分光法 ,  吸収端 ,  評価