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J-GLOBAL ID：201102291071793014   整理番号：11A0729958

漏洩磁束探傷検査法を用いたスポット溶接欠陥検査用画像化装置の開発

著者 (6件)： 三宅康介 (岡山大) ,  吉岡光輝 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  塚田啓二 (岡山大) ,  平野佳伸 (大橋製作所) ,  松元光明 (大橋製作所)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan)
巻： 2011  号： 2  ページ： 156  発行年： 2011年03月05日 
JST資料番号： S0653A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 漏れ磁束 ,  *溶接欠陥 ,  *磁気検査 ,  *画像処理システム ,  画像技術 ,  撮像装置 ,  *非破壊検査 ,  *欠陥
準シソーラス用語： *磁気探傷検査

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  溶接欠陥  (WC07130P)

タイトルに関連する用語 (7件)： 漏洩磁束 ,  傷 ,  検査 ,  スポット溶接 ,  欠陥検査 ,  画像化 ,  開発