文献

J-GLOBAL ID：201102293504785049   整理番号：11A1241495

フラットパネル検出器の品質管理システムの開発

Development of quality control system for flat-panel detectors

著者 (6件)： TERAMOTO Atsushi (Fujita Health Univ., Aichi, JPN) ,  KAJIHARA Takahiko (Fujita Health Univ., Aichi, JPN) ,  SUZUKI Shoichi (Fujita Health Univ., Aichi, JPN) ,  KINOSHITA Kazuo (Banbuntane Soutokukai Hospital, Aichi, JPN) ,  TSUZAKA Masatoshi (Nagoya Univ., Aichi, JPN) ,  FUJITA Hiroshi (Gifu Univ., Gifu, JPN)
資料名： Radiological Physics and Technology  (Radiological Physics and Technology)
巻： 4  号： 2  ページ： 164-172  発行年： 2011年07月20日 
JST資料番号： L7250A  ISSN： 1865-0333  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フラットパネル検出器 (FPD) の使用に伴う劣化を検出する方法を提案する。FPDにX線を入力しないときに,欠陥画素に対する画素値は,大きい値か小さい値になるので,2つのしきい値を設定して,大きいしきい値以上,あるいは小さいしきい値以下の画素を欠陥画素として検出する。欠陥画素を画像から除いた後に,画像を水平,および垂直方向に投影して,しきい値を超える投影値に対応する位置に欠陥ラインがあると判定する。FPDを複数のブロックに分割して,各ブロックの画素値の平均値と初期の平均値を比較して,局所的な暗電流の増加を検出する。品質管理プログラムを作成した実験により,X線の照射により,暗電流が指数関数的に増加することが分かった。X線の照射に対して欠陥画素数はランダムに変化するが,大きな傾向は見られず,また欠陥ラインは変化しなかった。

シソーラス用語： *放射線検出器 ,  X線画像 ,  X線検出 ,  X線診断 ,  *品質管理 ,  管理システム ,  画素 ,  *フラットパネルディテクタ ,  画像技術
準シソーラス用語： *フラットパネル検出器

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

引用文献 (12件)：

• 1. Rowlands J, Kasap S Amorphous semiconductors usher in digital X-ray imaging. Phys Today. 1997:24-30
• 2. Moy JP. Large area X-ray detectors based on amorphous silicon technology. Thin Solid Films. 1999;337:213-21.
• 3. Hopkinson GR. Radiation effects on solid state imaging devices. Radiat Phys chem. 1994;43:79-91.
• 4. Boudry JM, Antonuk LE. Radiation damage of amorphous silicon photodiode sensors. IEEE Trans Nucl Sci. 1994;41:703-7.
• 5. Meng X-T, Kang A-G, Li J-H, Zhang H-Y, Yu S, Zheng Y. Effects of electron and gamma-ray irradiation on CMOS analog image sensors. Microelectron Reliab. 2003;43:1151-5.

タイトルに関連する用語 (3件)： フラットパネル検出器 ,  品質管理システム ,  開発