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J-GLOBAL ID:201102295942213247   整理番号:11A0610524

溶接変形・残留応力の予測・計測技術 量子ビームによる溶接部の残留応力測定

著者 (4件):
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巻: 80  号:ページ: 159-165  発行年: 2011年03月05日 
JST資料番号: G0090A  ISSN: 0021-4787  CODEN: YOGAA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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溶接構造物の残留応力について概観し,量子ビームを用いた残留応力測定法について解説した。残留応力はその作用するスケールによって,第一種(巨視的応力),第二種(結晶粒単位の応力)及び第三種(結晶粒内の転位組織レベルの残留応力)に分類できる。量子ビームによる残留応力測定では,格子面間隔の変化を弾性歪(格子歪)として測定する。中性子,放射光及び電子後方散乱(EBSD)残留応力測定法の現状と課題を説明し,これらの測定法を組合わせることにより溶接部の残留応力を表面から内部までマルチスケールで測定できる可能性を示した。表面近傍の結晶粒内の残留応力分布はEBSDや放射光により,また内部は中性子を用いて比較的大きな領域(ゲージ体積)を対象として測定できる。
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分類 (2件):
分類
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溶接欠陥  ,  非破壊試験 
引用文献 (32件):
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