特許

J-GLOBAL ID：201103001372274522

蛍光寿命測定装置

発明者： 藤本 正俊 ,  青島 紳一郎 ,  細田 誠 ,  土屋 裕
出願人/特許権者： 浜松ホトニクス株式会社
代理人 (3件)： 長谷川 芳樹 ,  塩田 辰也 ,  寺崎 史朗
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-140118
公開番号（公開出願番号）：特開2000-329695
特許番号：特許第3884594号
出願日： 1999年05月20日
公開日（公表日）： 2000年11月30日
請求項（抜粋）：

【請求項1】パルス光源によって供給された光パルスから、それぞれの出力タイミングが同期された第1の光束と第2の光束とを生成して出力する光源部と、 光パルスのパルス位置において、その強度に応じた複屈折を示す検出媒体と、 前記第1の光束に基づいてゲートパルスを形成し、前記検出媒体に前記ゲートパルスを入射するゲート光学系と、 前記第2の光束に基づいて励起パルスを形成し、これを被測定物質に入射させて蛍光を発生させるための励起光学系と、 前記検出媒体に前記ゲートパルスが入射されることによって非線形光学効果による屈折率変化が誘起された光飛跡領域を含む前記検出媒体の所定領域に前記被測定物質からの前記蛍光を照射する蛍光光学系と、 前記検出媒体の所定領域を通過した前記蛍光を検出する光検出部と、を備え、 前記ゲート光学系は、前記ゲートパルスを所定の偏光状態とするためのゲートパルス偏光手段と、前記ゲートパルスを前記検出媒体に所定の入射条件によって入射させる入射光学系とを有し、前記蛍光光学系は、前記蛍光を所定の偏光状態とするための蛍光偏光手段を有し、 前記光検出部は、前記検出媒体の所定領域を通過した前記蛍光のうち、所定の偏光成分のみを透過させる検光手段と、前記検光手段を透過した前記蛍光を検出・観測する光検出手段と、前記検出媒体の所定領域を通過し前記検光手段を透過した前記蛍光を前記光検出手段に結像させて蛍光像とする結像手段と、を有することによって、前記光飛跡領域において複屈折性を示すパルス位置が時間とともに移動することを利用して、前記蛍光像により前記蛍光の時間変化を測定することを特徴とする蛍光寿命測定装置。

IPC (1件)：

G01N 21/64 ( 200 6.01)

FI (1件)：

G01N 21/64 B

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 時間分解発光イメージング装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-003213   出願人：株式会社分子バイオホトニクス研究所
• 特開昭51-090868
  
• 特開平3-289540