特許
J-GLOBAL ID:201103002241978881

光学特性評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 西 和哉 ,  志賀 正武 ,  青山 正和 ,  上柳 雅誉 ,  須澤 修
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-177149
公開番号(公開出願番号):特開2002-365162
特許番号:特許第3794286号
出願日: 2001年06月12日
公開日(公表日): 2002年12月18日
請求項(抜粋):
【請求項1】 光源と、 前記光源の出射光が入射され入射された光を特性評価対象となるパネルに導く複数のレンズからなるレンズ光学系と、 前記パネルの出射光の照度を検出する照度検出手段と、 前記レンズ光学系のうち前記光源側から偶数番目であり、且つ、前記パネル側から入射側へ偶数番目に配置された第1のレンズと、 前記第1のレンズの入射光側の直前に配置され前記第1のレンズへの入射光束の範囲を制限して前記パネルの入射光の範囲を制限する入射範囲制限絞りと、 前記第1のレンズの出射光側の直後に配置され前記第1のレンズからの出射光束の範囲を制限して前記パネルの入射光の入射角度を制限する入射角度制限絞りと、 を具備したことを特徴とする光学特性評価装置。
IPC (2件):
G01M 11/00 ( 200 6.01) ,  G02F 1/13 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101
引用特許:
審査官引用 (6件)
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