3次元形状測定方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：足立勉
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-122723
公開番号（公開出願番号）：特開2002-318109
特許番号：特許第3519698号
出願日： 2001年04月20日
公開日（公表日）： 2002年10月31日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 3次元形状の被測定物に格子パターンを投影し、この格子像から前記被測定物の3次元形状の測定値を得る3次元形状測定方法において、周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子を設け、複数の前記1次元格子毎に色を変えて前記被測定物に前記格子パターンを同時に重畳して投影し、前記被測定物の3次元形状に応じて変形した格子像を撮像し、該格子像から前記各色毎の前記1次元格子成分に分離し、前記各1次元格子成分毎に位相を検出して、該各位相に基づいて前記測定値を得ることを特徴とする3次元形状測定方法。

IPC (1件)：