特許
J-GLOBAL ID:201103003037438823

オブジェクトの特性を測定するための装置、方法及びコンピュータプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-539007
公開番号(公開出願番号):特表2011-507583
出願日: 2008年12月16日
公開日(公表日): 2011年03月10日
要約:
本発明は、オブジェクトの特性を測定する装置に関する。本発明は、対応する方法及びコンピュータプログラムに関する。本装置は、オブジェクトの特定を測定するため、オブジェクトとの間で電磁波を送受信するためのアンテナを有する。アンテナは、オブジェクトのさらなる特性を測定するための電極として機能する導電性要素を有する。
請求項(抜粋):
オブジェクトの特性を測定する装置であって、 前記オブジェクトの特性を測定するため、前記オブジェクトとの間で電磁波を送受信するアンテナを有し、 前記アンテナは、前記オブジェクトのさらなる特性を測定するための電極として機能する導電性要素を有する装置。
IPC (3件):
A61B 5/00 ,  A61B 5/040 ,  A61B 5/04
FI (3件):
A61B5/00 B ,  A61B5/04 300A ,  A61B5/04 R
Fターム (16件):
4C027AA02 ,  4C027AA06 ,  4C027AA10 ,  4C027FF02 ,  4C027GG05 ,  4C027GG07 ,  4C027KK03 ,  4C117XB01 ,  4C117XB06 ,  4C117XC19 ,  4C117XD05 ,  4C117XD24 ,  4C117XE15 ,  4C117XE52 ,  4C117XH02 ,  4C117XH12
引用特許:
審査官引用 (3件)

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