特許
J-GLOBAL ID：201103003391040764
スカンジア安定化ジルコニアシートの製造方法、および当該製造方法により得られるスカンジア安定化ジルコニアシート、並びにスカンジア安定化ジルコニア焼結粉末
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
植木 久一
, 植木 久彦
, 菅河 忠志
, 伊藤 浩彰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-237985
公開番号（公開出願番号）：特開2011-105589
出願日： 2010年10月22日
公開日（公表日）： 2011年06月02日
要約：
【課題】本発明は、いったん焼結されたスカンジア安定化再生ジルコニア粉末を用いるものでありながら、スカンジア安定化ジルコニアからなる未焼結粉末のみから得られるものよりも高強度の焼結シートを生産性良く製造する方法などを提供することを目的とする。【解決手段】本発明に係るスカンジア安定化ジルコニアシートの製造方法は、スカンジア安定化ジルコニアの焼結体を粉砕して、特定のスカンジア安定化ジルコニア焼結粉末を得る工程;スカンジア安定化ジルコニア焼結粉末とジルコニア未焼結粉末を含むスラリーであって、スラリー中におけるスカンジア安定化ジルコニア焼結粉末とジルコニア未焼結粉末の合計に対するスカンジア安定化ジルコニア焼結粉末の割合が2質量%以上、40質量%以下であるスラリーを調製する工程;上記スラリーをシート状に成形する工程;および、得られた成形体を焼結する工程を含むことを特徴とする。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
スカンジア安定化ジルコニアシートを製造するための方法であって、
スカンジア安定化ジルコニアの焼結体を粉砕して、透過型電子顕微鏡で測定される平均粒子径(De)が0.3μm超、1.5μm以下、レーザー散乱法で測定される平均粒子径(Dr)が0.3μm超、3.0μm以下、且つ透過型電子顕微鏡で測定される平均粒子径に対するレーザー散乱法で測定される平均粒子径の比(Dr/De)が1.0以上、2.5以下であるスカンジア安定化ジルコニア焼結粉末を得る工程;
スカンジア安定化ジルコニア焼結粉末とジルコニア未焼結粉末を含むスラリーであって、スラリー中におけるスカンジア安定化ジルコニア焼結粉末とジルコニア未焼結粉末の合計に対するスカンジア安定化ジルコニア焼結粉末の割合が2質量%以上、40質量%以下であるスラリーを調製する工程;
上記スラリーをシート状に成形する工程;および、
得られた成形体を焼結する工程
を含むことを特徴とする製造方法。
IPC (3件)：
C01G 25/00
, H01M 8/02
, H01M 8/12
C01G25/00
, H01M8/02 K
, H01M8/12
4G048AA03
, 4G048AB01
, 4G048AC06
, 4G048AD03
, 4G048AE05
, 5H026AA06
, 5H026BB01
, 5H026BB02
, 5H026BB06
, 5H026BB08
, 5H026CX04
, 5H026EE12
, 5H026HH00
, 5H026HH01
, 5H026HH03
, 5H026HH05
