特許

J-GLOBAL ID：201103003808946303

ディスクの欠陥管理領域情報検証方法及びこれを行うためのテスト装置

発明者： 高 禎完 ,  鄭 鉉権
出願人/特許権者： 三星電子株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-110581
公開番号（公開出願番号）：特開2002-056632
特許番号：特許第3644901号
出願日： 2001年04月09日
公開日（公表日）： 2002年02月22日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 欠陥管理領域(DMA)情報を有するディスクを記録及び再生しうる記録及び再生装置のDMA情報生成または更新機能を検証する方法において、 テスト基準情報を有するテストディスクを用いて前記記録及び再生装置において前記テストディスクの追加余裕空間を拡張した後、前記テストディスクのDMA情報からテスト情報を生成する段階と、 前記テスト基準情報により予測された基準情報と前記テスト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証結果を提供する段階と、を含むディスクの欠陥管理領域情報検証方法。

IPC (6件)：

G11B 20/18 ,  G06F 3/06 ,  G06F 3/08 ,  G11B 20/10 ,  G11B 20/12 ,  G11B 27/00

FI (7件)：

G11B 20/18 550 F ,  G11B 20/18 501 F ,  G06F 3/06 304 R ,  G06F 3/08 F ,  G11B 20/10 C ,  G11B 20/12 ,  G11B 27/00 D

引用特許：

出願人引用 (1件)

• ディスク装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-300480   出願人：ソニー株式会社

審査官引用 (1件)

• ディスク装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-300480   出願人：ソニー株式会社