特許
J-GLOBAL ID:201103005219808688
顕微鏡により試料を3次元結像するための方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
恩田 博宣
, 恩田 誠
, 本田 淳
, 池上 美穂
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-526192
公開番号(公開出願番号):特表2010-540994
出願日: 2008年09月16日
公開日(公表日): 2010年12月24日
要約:
本発明は、試料を3次元結像するための方法に関するものであり、この方法では、試料の深さ方向において種々異なる平面からの画像情報を位置分解して記憶し、続いてこの画像情報から試料の3次元画像を復元する。この種の方法は選択的平面照明顕微鏡(SPIM)法に関するものであり、本発明により、基準構造に照明光を照射し、少なくとも1つの蛍光基準物体を、試料の近傍または試料内部に位置決し、少なくとも1つの検出方向から、照明光の基準構造の画像、基準物体の基準構造の画像、または基準構造として適する試料構造の画像を記録して評価し、結果に基づいて光シートを最適な位置に配置し、複数の検出方向から、基準物体および試料の画像情報を記憶し、基準物体から記憶された画像情報に基づいて変換演算子を獲得し、該変換演算子を、試料から記憶された画像情報から試料の3次元結像を復元するために使用する。
請求項(抜粋):
顕微鏡により試料を3次元結像するための方法であって、
該試料の深さ方向において種々異なる平面から画像情報を捕捉し、該画像情報を該試料の空間座標X,Y,Zに位置分解して割り当てて記憶し、
該記憶された画像情報から該試料の3次元画像を電子的に復元する方法において、
少なくとも1つの基準物体を、該試料の近傍または該試料内部に位置決めし、
該画像情報が捕捉される検出方向を、該試料および該基準物体に対して複数回変更し、
該変更によって設定された各検出方向から、
該基準物体の画像情報を捕捉し、それぞれ空間座標X,Y,Zに位置分解して記憶し、
該試料の深さ方向における種々異なる平面から画像情報を捕捉し、それぞれ空間座標X,Y,Zに位置分解して記憶し、
該基準物体から記憶された画像情報の空間座標X,Y,Zに基づいて、並進、回転および変形のための変換演算子を獲得し、該変換演算子により種々異なる検出方向からの同じ起源の画像情報をオーバラップし、
続いて該変換演算子を、該試料から得られた画像情報の空間座標X,Y,Zから、該試料の3次元画像を復元するために使用することを特徴とする、方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (23件):
2G043AA03
, 2G043CA05
, 2G043DA01
, 2G043DA05
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043FA06
, 2G043GA02
, 2G043GA03
, 2G043GB05
, 2G043GB19
, 2G043HA01
, 2G043JA03
, 2G043KA02
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043NA06
, 2H052AA00
, 2H052AA09
, 2H052AC04
, 2H052AC34
, 2H052AF14
, 2H052AF25
引用特許:
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