特許
J-GLOBAL ID:201103005972714815
ケイ素含有膜を調製するための方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (6件):
青木 篤
, 石田 敬
, 古賀 哲次
, 永坂 友康
, 小林 良博
, 出野 知
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-022459
公開番号(公開出願番号):特開2011-171730
出願日: 2011年02月04日
公開日(公表日): 2011年09月01日
要約:
【課題】ケイ素含有膜を調製するための方法を提供する。【解決手段】ケイ素、酸化物そして任意選択で窒素、炭素、水素およびホウ素を含む誘電体膜を形成する方法が提供される。さらに、例えば半導体ウェハーなどの加工対象物の上に誘電体膜またはコーティングを形成するための方法が提供される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
反応チャンバ内に基材の少なくとも1つの表面を提供するステップと、
前記反応チャンバ内に以下の式I、IIおよびIII
IPC (3件):
H01L 21/316
, H01L 21/318
, C23C 16/42
FI (3件):
H01L21/316 X
, H01L21/318 B
, C23C16/42
Fターム (24件):
4K030AA06
, 4K030AA09
, 4K030AA10
, 4K030AA14
, 4K030AA18
, 4K030AA24
, 4K030BA35
, 4K030BA44
, 4K030CA04
, 4K030FA01
, 4K030FA10
, 4K030HA01
, 4K030LA18
, 5F058BA20
, 5F058BC02
, 5F058BC08
, 5F058BF04
, 5F058BF07
, 5F058BF27
, 5F058BF29
, 5F058BF30
, 5F058BF37
, 5F058BF39
, 5F058BJ04
引用特許:
審査官引用 (1件)
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基板処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-003910
出願人:株式会社日立国際電気
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