特許

J-GLOBAL ID：201103006451071370

電池残量減少検出装置及び電池残量減少検出用プログラムを記録した記録媒体

発明者： 川島 定
出願人/特許権者： 矢崎総業株式会社
代理人 (3件)： 瀧野 秀雄 ,  松村 貞男 ,  垣内 勇
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-204641
公開番号（公開出願番号）：特開2003-014831
特許番号：特許第4077176号
出願日： 2001年07月05日
公開日（公表日）： 2003年01月15日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 所定負荷に電源を供給する電池と、該電池の電池電圧を検出する電池電圧検出手段と、前記電池電圧、及び、予め定めた前記電池電圧の基準値、の比較を行う比較手段と、第1検査周期毎に前記比較結果に基づいた前記電池の電圧低下検査を行う第1周期検査手段、前記第1検査周期とは異なる第2検査周期毎に前記検査を行う第2周期検査手段、及び、前記第1周期検査手段により前記電池の電圧が低下しているとの検査結果が得られたときに前記第1周期検査手段から前記第2周期検査手段による検査に切り替える第1切替手段、を有する前記電池電圧低下検査手段と、前記検査結果に基づいて前記電池の残量減少を検出する電池残量減少検出手段とを備えた電池残量減少検出装置において、 前記電池電圧低下検査手段は、予め定めた第1所定回数、前記第2周期検査手段による前記検査が行われた結果、予め定めた第2所定回数以上、前記電池の電圧が低下しているとの検査結果が得られなかったとき、前記第2周期検査手段から前記第1周期検査手段による検査に切り替える第2切替手段を有する ことを特徴とする電池残量減少検出装置。

IPC (4件)：

G01R 31/36 ( 200 6.01) ,  H01M 10/42 ( 200 6.01) ,  H01M 10/48 ( 200 6.01) ,  H02J 7/00 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G01R 31/36 A ,  H01M 10/42 P ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 N

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 電池寿命検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-105827   出願人：山武ハネウエル株式会社
• バッテリ-の残量チェック装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-175571   出願人：旭光学工業株式会社