特許
J-GLOBAL ID：201103006551500170

光干渉断層法のアイレジストレーション法

発明者：
ウェイ,ジェイ

ウェイ,ジェイ について

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ジャン,ベン,クウェイ

ジャン,ベン,クウェイ について

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ルウ,シュウ-シェン

ルウ,シュウ-シェン について

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デン,ヤンムウ

デン,ヤンムウ について


出願人/特許権者：
オプトビュー,インコーポレーテッド

オプトビュー,インコーポレーテッド について


代理人 (5件)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  渡辺 敏章 ,  松丸 秀和 ,  大塩 剛
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-505018
公開番号（公開出願番号）：特表2011-516235
出願日： 2009年04月14日
公開日（公表日）： 2011年05月26日
要約：
【課題】アイレジストレーション及び眼の検査に使用される方法を開示する。【解決手段】アイレジストレーション及び眼の検査に使用される方法が開示され、この方法の幾つかの実施形態は、走査パターン走査線群を取得するステップと;画像群を前記走査線群に基づいて形成するステップと;前記画像群を位置合わせするステップと;特徴マップを前記走査パターン走査線群に基づいて生成するステップと;特徴群を前記特徴マップ上に特定するステップと;そして特徴群の位置情報を記録するステップと、を含む。【選択図】図2A
請求項（抜粋）：
走査パターン走査線群を取得するステップと、 画像群を前記走査線群に基づいて形成するステップと、 前記画像群を位置合わせするステップと、 特徴マップを前記走査パターン走査線群に基づいて生成するステップと、 前記特徴マップ上にて特徴群を特定するステップと、 特徴群の位置情報を記録するステップと、 を含む、アイレジストレーション法。
IPC (2件)：
A61B 3/10 ,  G01N 21/17
FI (2件)：
A61B3/10 R ,  G01N21/17 620
Fターム (7件)：
2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059HH02 ,  2G059KK04 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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