特許
J-GLOBAL ID：201103006744162418
上位層指示による品質制御可能なSAR機能を有する装置、LSI装置および上位層指示による品質制御方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
机 昌彦
, 谷澤 靖久
, 河合 信明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-152616
公開番号（公開出願番号）：特開2000-341299
特許番号：特許第3560499号
出願日： 1999年05月31日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】ATMセルからAAL5フレームの組立てを行うセル組立処理手段と、前記セル組立処理手段によるセル組立処理の際にバッファ情報を蓄積するフレームバッファ手段を有する装置であって、前記セル組立処理手段は、受信した最初のセルのヘッダ情報および/またはセルペイロード内に含まれる上位層情報に基づいて組立処理すべきフレームの優先度を判定し、前記フレームバッファ手段の組立バッファキューがしきい値を超えた場合に、前記判定したフレームの優先度が低いフレームに相当するセルを廃棄する第1の優先制御手段と、組み立てた受信フレームを次処理用のキューに積み込む際に、当該フレームに相当する受信した最終セルを含むセルストリームに含まれるヘッダ情報、セルペイロード内の上位層情報および装置内ヘッダ情報に基づいて当該フレームの優先度を判定し、前記次処理用のキューがしきい値を超えた場合に、前記判定したフレームの優先度が低いフレームを前記次処理用のキューに積み込まずに廃棄する第2の優先制御手段とを有することを特徴とする上位層指示による品質制御可能なSAR機能を有する装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
前のページに戻る
