特許

J-GLOBAL ID：201103006849374801

分光測光器

発明者： 篠山 智生
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 喜多 俊文 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-029618
公開番号（公開出願番号）：特開2000-227360
特許番号：特許第3405250号
出願日： 1999年02月08日
公開日（公表日）： 2000年08月15日
請求項（抜粋）：

【請求項1】試料からの反射光をスリットにより1次元方向に制限した後に分光し、分光された反射光を、2次元方向に配列された複数の光検出素子からなる受光面を有する光検出器で検出し、試料の1次元領域内の各位置毎に反射光の波長別の光強度を測定する構成の分光測光器において、反射率を求めるため前記スリットに直交する方向に光学系を走査しながら、基準試料の2次元領域の各々の点に対する波長別の光強度を測定する手段と、前記基準試料の前記一次元領域内の各々の測定点についての複数の測定結果を走査方向に平均化して得られる複数の値を前記1次元方向の各々の点における基準値として保持する手段を有し、サンプルについて光学系を前記スリットに直交する方向に走査しながら測定することによって2次元領域の各々の点に対して得られる測定結果を保持して、1次元方向の各々の点における前記基準値を演算処理することにより、前記サンプルの2次元領域にわたって基準試料に対する反射率スペクトルを得るようにしたことを特徴とする分光測光器。

IPC (2件)：

G01J 3/46 ,  G01N 21/27

FI (2件)：

G01J 3/46 Z ,  G01N 21/27 A

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 分光光度計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-280244   出願人：株式会社島津製作所
• 分光測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-149577   出願人：株式会社島津製作所