特許
J-GLOBAL ID：201103007077629023

光測定装置

発明者：
安川 学

安川 学 について


出願人/特許権者：
浜松ホトニクス株式会社

浜松ホトニクス株式会社 について


代理人 (4件)： 長谷川 芳樹 ,  塩田 辰也 ,  寺崎 史朗 ,  阿部 豊隆
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-108059
公開番号（公開出願番号）：特開2000-298059
特許番号：特許第4358348号
出願日： 1999年04月15日
公開日（公表日）： 2000年10月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 被測定光のビームパターンを計測する光測定装置であって、 光ファイバが複数本束ねられて成るファイバ光学部品からなり、当該ファイバ光学部品の光ファイバの入射面から前記被測定光を入射させ、前記被測定光を当該ファイバの出射面から出射させることによって、前記出射面において前記ビームパターンに応じた投影像を形成させる入射板と、 前記入射板を通過した通過光のうち少なくとも主光線が入射可能な第1のレンズおよび当該第1のレンズを通過した前記通過光を前記光電変換部に入射させる第2のレンズを有すると共に、前記投影像を拡大または縮小して結像させるズーム部と、 前記ズーム部により前記投影像が結像される位置に受光面を有し、当該受光面上で結像された前記投影像を撮像して電気信号に変換する光電変換部と、 前記電気信号に基づいて前記ビームパターンを算出する算出手段と、 を備えることを特徴とする光測定装置。
IPC (2件)：
G01J 1/00 ( 200 6.01) ,  G01J 1/02 ( 200 6.01)
FI (3件)：
G01J 1/00 E ,  G01J 1/02 L ,  G01J 1/02 M
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (9件)
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