特許
J-GLOBAL ID:201103007169895331

レートファンクション測定装置および方法、プログラム、記録媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山川 政樹
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-017509
公開番号(公開出願番号):特開2002-222179
特許番号:特許第3774119号
出願日: 2001年01月25日
公開日(公表日): 2002年08月09日
請求項(抜粋):
【請求項1】 極限定理に基づき確率システムを解析する際に、その確率システムの確率変数の分布を表現するレートファンクションを計測するレートファンクション計測装置において、 解析対象となる確率システムからパラメータtを有する確率変数Atの実現値を計測する計測手段と、 この計測手段での計測結果に基づき、確率変数Atをパラメータtで除算して得られる確率量At/tが任意の値γ以上となる確率変数Atの確率補分布P{At≧γt}を推定する確率分布推定手段と、 この推定手段により得られた確率補分布P{At≧γt}の形状を示すレートファンクションI(γ) を求めるレートファンクション算出手段とを備え、 前記確率分布推定手段は、 前記計測手段により計測された確率変数Atの実現値から、前記確率補分布P{At≧γt}の対数値logP{At≧γt}をキュムラントとして複数算出するキュムラント算出手段と、前記確率補分布P{At≧γt}の対数値logP{At≧γt}を、γに関する所定の関数fi(γ)とパラメータat,iとの積和演算式からなる近似式Ft(γ) を用いて近似し、前記キュムラント算出手段により算出された前記各キュムラントを用いて前記パラメータat,iを求めることにより前記近似式を求める近似式算出手段とを有して、異なる2つのパラメータt1,t2における確率補分布P{At1≧γt1}およびP{At2≧γt2}の対数値logP{At1≧γt1}およびlogP{At2≧γt2}をそれぞれ推定し、 前記レートファンクション算出手段は、前記確率分布推定手段で得られた対数値logP{At1≧γt1}およびlogP{At2≧γt2}を用いて、 から仮レートファンクションI'2(γ)を求める仮レートファンクション算出手段と、前記確率変数At1の実現値から得られた標本平均値γAVGで0(ゼロ)となるように前記仮レートファンクションI'2(γ)を補正しレートファンクションI2(γ)として出力する出力値補正手段とを有する ことを特徴とするレートファンクション測定装置。
IPC (1件):
G06F 17/18 ( 200 6.01)
FI (1件):
G06F 17/18 Z
引用特許:
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る