特許
J-GLOBAL ID：201103007688622032

ホログラムの光学特性測定方法

発明者：
勝間田 正基

勝間田 正基 について


出願人/特許権者：
大日本印刷株式会社

大日本印刷株式会社 について


代理人 (7件)： 韮澤 弘 ,  阿部 龍吉 ,  蛭川 昌信 ,  内田 亘彦 ,  菅井 英雄 ,  青木 健二 ,  米澤 明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-139758
公開番号（公開出願番号）：特開2001-324411
特許番号：特許第4569991号
出願日： 2000年05月12日
公開日（公表日）： 2001年11月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 再生照明光の入射角が空気とホログラム媒質あるいはそれを支持する媒質との界面における臨界角θC よりも大きいホログラムの光学特性の測定方法において、 前記ホログラム作製中のエッチング工程中にホログラム媒質あるいはそれを支持する媒質の側面から単一波長の測定光を入射させて、ホログラム媒質あるいはそれを支持する媒質の中で全反射により測定光を測定領域へガイドし、測定領域から空気中に出射された回折光強度の角度分布を測定することを特徴とするホログラムの光学特性測定方法。ただし、前記臨界角θC は、θC =sin-1(1/n);nはホログラム媒質あるいはそれを支持する媒質の屈折率である。
IPC (4件)：
G01M 11/00 ( 200 6.01) ,  G02B 5/20 ( 200 6.01) ,  G02B 5/32 ( 200 6.01) ,  G03H 1/04 ( 200 6.01)
FI (4件)：
G01M 11/00 T ,  G02B 5/20 101 ,  G02B 5/32 ,  G03H 1/04
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)
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