特許

J-GLOBAL ID：201103007808909799

液晶セル内気泡のガス分析装置および該ガス分析装置を使用した液晶セル内気泡のガス分析方法

発明者： 田中 正治 ,  佐藤 達哉 ,  金本 明彦 ,  梅村 和彦 ,  菅原 智明 ,  村井 俊晴
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (2件)： 友松 英爾 ,  川島 利和
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-104607
公開番号（公開出願番号）：特開2000-292762
特許番号：特許第3683740号
出願日： 1999年04月12日
公開日（公表日）： 2000年10月20日
請求項（抜粋）：

【請求項1】液晶セル内に発生した気泡を含む液晶セルの局部だけを密閉できる密閉空間、該密閉空間内においてその密閉状態を維持したまま気泡を破壊できる破壊手段、および該破壊された該気泡のガス分析手段を少なくとも有するものであることを特徴とする液晶セル内気泡のガス分析装置。

IPC (3件)：

G02F 1/13 ,  G01N 1/00 ,  G01N 27/62

FI (4件)：

G02F 1/13 101 ,  G01N 1/00 101 R ,  G01N 27/62 F ,  G01N 27/62 V

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 液中溶存気体分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-162301   出願人：日機装株式会社
• 検査装置および試料検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-141772   出願人：株式会社日立製作所, 日立東京エレクトロニクス株式会社