特許
J-GLOBAL ID：201103008930062540
質量分析計及び質量分析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大橋 邦彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-172874
公開番号（公開出願番号）：特開2000-057989
特許番号：特許第4560656号
出願日： 1999年06月18日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 質量分析計であって、減圧チャンバー、使用において前記減圧チャンバーよりも高圧下にあるサンプリング領域、前記サンプリング領域及び前記減圧チャンバーの間を連通するサンプリング・オリフィス、並びに、前記サンプリング領域から前記減圧チャンバー内へ、第1軸線に沿って前記サンプリング・オリフィスを通る少なくとも一部の帯電粒子を受け入れる質量分析器を備える質量分析計において、
a)各々に分析されるべき流体が供給されて、該流体から誘導された帯電粒子から成るジェットをジェット軸線に沿って生成する複数の帯電粒子ジェット生成手段であり、各々が異なるジェット軸線を有するように、且つ、それらジェット軸線の全てが前記サンプリング領域内で前記第1軸線と交差するように配置されている複数の帯電粒子ジェット生成手段と、
b)前記ジェット軸線及び前記第1軸線の交点が内部に在るように配置された中空部材を具備し、該中空部材は、前記ジェット軸線に整列可能な少なくとも第1アパーチャを有し、前記帯電粒子ジェット内に含まれる少なくとも一部の帯電粒子が該第1アパーチャを通って前記中空部材の内部に入り前記第1軸線に向かって進むことになる、ジェット選択手段と、
c)前記中空部材における前記第1アパーチャを前記ジェット軸線の各々に対して順次整列させ、それによって、前記帯電粒子ジェットの各々に含まれる少なくとも一部の帯電粒子を前記中空部材の内部に順次入れて、前記サンプリング・オリフィスから前記減圧チャンバー内へ通過させ、そして引き続き前記質量分析器に入るようにする手段と、
を備えることを特徴とする質量分析計。
IPC (5件)：
H01J 49/04 ( 200 6.01)
, G01N 27/62 ( 200 6.01)
, G01N 30/72 ( 200 6.01)
, H01J 49/10 ( 200 6.01)
, H01J 49/40 ( 200 6.01)
H01J 49/04
, G01N 27/62 X
, G01N 30/72 C
, H01J 49/10
, H01J 49/40
