特許

J-GLOBAL ID：201103011670405830

蛍光X線分析装置

発明者： 桑原 章二
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 塩野入 章夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-345946
公開番号（公開出願番号）：特開2003-149182
特許番号：特許第3729341号
出願日： 2001年11月12日
公開日（公表日）： 2003年05月21日
請求項（抜粋）：

【請求項1】少なくとも二つの励起X線源と、試料ステージを備え、前記試料ステージは、前記各励起X線源が照射する一次X線の試料面での照射位置と試料ステージの原点に対するオフセット量を、各励起X線源毎に位置補正する、蛍光X線分析装置。

IPC (2件)：

G01N 23/223 ,  G21K 5/02

FI (3件)：

G01N 23/223 ,  G21K 5/02 W ,  G21K 5/02 X

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 蛍光X線分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-131183   出願人：株式会社島津製作所
• X線装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-228443   出願人：理学電機株式会社