特許
J-GLOBAL ID：201103011827525176

非破壊検査装置

発明者：
落合 豊

落合 豊 について


出願人/特許権者：
浜松ホトニクス株式会社

浜松ホトニクス株式会社 について


代理人 (3件)： 長谷川 芳樹 ,  塩田 辰也 ,  寺崎 史朗
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-309835
公開番号（公開出願番号）：特開2001-135497
特許番号：特許第3934836号
出願日： 1999年10月29日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 交換可能なフィラメント部を有する電子銃から放出した電子をターゲットに照射して、前記ターゲットからX線を放出させる開放型X線発生装置から発生させるX線を検査対象物に照射させ、前記検査対象物の状態をX線カメラによって撮像させる非破壊検査装置において、 前記開放型X線発生装置は、 内部にコイル部を有すると共に、前記コイル部によって包囲された電子通路を有し、ポンプによって真空引きされる筒状部と、 前記筒状部の基端側に固定されると共に、高圧発生部を樹脂モールドしたモールド電源部とを備え、 前記筒状部の一端側に設けられた前記ターゲットを上にし、前記筒状部の他端側に設けられた前記モールド電源部を下にした状態で、前記モールド電源部が据え付け固定され、 前記筒状部は、前記モールド電源部に基端側を固定させた固定部と、前記固定部の先端側に取り付けられた着脱部とを有し、前記固定部内には前記フィラメント部が収容され、前記着脱部内には前記コイル部及び前記電子通路が設けられていることを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (5件)：
H05G 1/08 ( 200 6.01) ,  G01N 23/04 ( 200 6.01) ,  G21K 5/02 ( 200 6.01) ,  H05G 1/00 ( 200 6.01) ,  H05G 1/02 ( 200 6.01)
FI (5件)：
H05G 1/08 Z ,  G01N 23/04 ,  G21K 5/02 X ,  H05G 1/00 C ,  H05G 1/02 D
引用特許：
審査官引用 (4件)
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