特許
J-GLOBAL ID:201103014834375723

電池検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-196002
公開番号(公開出願番号):特開2011-039014
出願日: 2009年08月06日
公開日(公表日): 2011年02月24日
要約:
【課題】高容量のスタック型の電池であっても、電極板の位置ずれを検査できる電池検査装置を提供する。【解決手段】層をなす複数の四角形の電極板を有する電池1の電極板の位置ずれを検査する電池検査装置であり、X線管2から放射されるX線ビーム3に電極板が沿うように電池1を位置決めする位置決め機構4と、電池1を透過したX線ビーム3を検出し透過像として出力するX線検出器5と、電極板の第一の角部分を面に沿ってかつ辺に対し傾斜した方向で透過したX線ビーム3を検出した第一の透過像と、電極板の第二の角部分を面に沿ってかつ辺に対し傾斜した方向で透過したX線ビーム3を検出した第二の透過像とを取込んで処理し、電極板の位置ずれを検出して良否を判定するデータ処理部6とを有する電池検査装置。【選択図】図1
請求項(抜粋):
層をなす複数の四角形の電極板を有する電池の前記電極板の位置ずれを検査する電池検査装置であり、 放射線源と、前記放射線源から放射される放射線ビームに前記電極板が沿うように前記電池を位置決めする位置決め手段と、 前記電池を透過した前記放射線ビームを検出し透過像として出力する放射線検出器と、 前記電極板の第一の角部分を面に沿ってかつ辺に対し傾斜した方向で透過した放射線ビームを検出した第一の透過像と、前記電極板の第二の角部分を面に沿ってかつ辺に対し傾斜した方向で透過した放射線ビームを検出した第二の透過像とを取込んで処理し、前記電極板の位置ずれを検出して良否を判定するデータ処理手段と、 を有することを特徴とする電池検査装置。
IPC (3件):
G01N 23/04 ,  H01M 10/04 ,  G01B 15/00
FI (3件):
G01N23/04 ,  H01M10/04 Z ,  G01B15/00 H
Fターム (24件):
2F067AA15 ,  2F067AA21 ,  2F067BB02 ,  2F067CC00 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL16 ,  2F067PP13 ,  2F067RR00 ,  2F067RR07 ,  2F067RR12 ,  2F067TT01 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001GA12 ,  2G001HA13 ,  2G001LA11 ,  5H028AA05 ,  5H028BB11 ,  5H028BB17 ,  5H028CC02 ,  5H028HH06
引用特許:
審査官引用 (3件)

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