特許
J-GLOBAL ID：201103016250237917
太陽電池セル特性の連続自動測定方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
山口 巖
, 松崎 清
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-069841
公開番号（公開出願番号）：特開2002-270873
特許番号：特許第4461625号
出願日： 2001年03月13日
公開日（公表日）： 2002年09月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 電気絶縁性を有する基板の表面に下電極層としての第1電極層,光電変換層,透明電極層(第2電極層)を順次積層してなる光電変換部と、前記基板の裏面に形成した接続電極層としての第3電極層および第4電極層とを備え、前記光電変換部および接続電極層を互いに位置をずらして単位部分にパターニングしてなり、前記光電変換層形成領域内に形成した接続孔ならびに集電孔を介して、前記表面上の互いにパターニングされて隣合う単位光電変換部分(ユニットセル)を電気的に直列に接続してなる薄膜太陽電池と、この太陽電池の電力取り出し用の電力取出電極層とを有する薄膜太陽電池群を、長尺基板の長尺方向に所定の間隔をおいて複数形成した前記各薄膜太陽電池群のセル特性を連続的に自動測定する方法において、
以下の1)から6)までの全ての工程を含むことを特徴とする太陽電池セル特性の連続自動測定方法。
1)薄膜太陽電池群が形成された基板を所定位置に搬送する工程。
2)前記基板の太陽電池の受光面側に、太陽の模擬光を照射する工程。
3)前記基板の太陽電池の非受光面側における電力取出電極層または取出電極層に隣接した接続電極層に、セルパターン検出用電極対を当接し、この電極対の短絡もしくは非短絡の検出により、セルパターンを判定する工程。
4)前記セルパターンの判定結果に応じて、セル特性測定用電極対を選択する工程。
5)前記選択されたセル特性測定用電極対により、セル特性を測定する工程。
6)前記セル特性測定完了後、隣接する次の薄膜太陽電池群を測定するために、基板を所定位置に搬送する工程。
IPC (3件)：
H01L 31/04 ( 200 6.01)
, G01R 31/26 ( 200 6.01)
, H01L 21/66 ( 200 6.01)
H01L 31/04 K
, G01R 31/26 F
, H01L 21/66 B
, H01L 21/66 E
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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