特許
J-GLOBAL ID:201103016581764631

サンプルホールダー、および前記サンプルホールダーの使用法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人特許事務所サイクス
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-502280
公開番号(公開出願番号):特表2011-519416
出願日: 2009年03月31日
公開日(公表日): 2011年07月07日
要約:
【課題】新規サンプルホールダー、およびそのようなサンプルホールダーの使用法を提供すること。【解決手段】好ましくは分析リーダーにおいて使用される、カード型基板またはプレート状の、顕微鏡スライド様のサンプルホールダーが提供される。このサンプルホールダーは、分析されるサンプルを受容するために、少なくとも一つの孔、好ましくは複数の孔を含む。該少なくとも一つの孔は、基板を完全に貫通して延び、そのサイズは、サンプルが、重力に対抗する該サンプルの表面張力によって、該少なくとも一つの孔の中に保持されるように選ばれる。必要に応じて、基板は、第1上部基板、および、該第1上部基板と一緒になって多孔性膜を埋設する、第2下部基板を含む。さらに別の選択肢として、サンプルホールダーは、第1上部基板の頂上側に付着する第1カバー、および/または、第2下部基板の底部側に付着する第2カバーを含む。さらに、このようなサンプルホールダーを分析リーダー中に納めて使用する方法であって、下記の工程:サンプルホールダーの少なくとも一つの孔を、サンプルおよび試薬混合物によって充填すること;サンプルホールダーを分析リーダー中に挿入すること;および、サンプルホールダーの、該少なくとも一つの孔における該サンプルおよび試薬混合物を、分析リーダーを用いて分析すること、を含む、方法が提供される。【選択図】
請求項(抜粋):
光学的または電気化学的リーダー(50)などの分析リーダーにおいて使用されるサンプルホールダー(10; 20; 30)であって: 分析されるサンプルを受容するための少なくとも一つの孔(15; 25; 35)を有する基板を含み、該少なくとも一つの孔(15; 25; 35)は、完全に基板を貫通して延び、そのサイズは、該サンプルが、該サンプルの表面張力によって、該少なくとも一つの孔(15; 25; 35)の中に保持されるように選ばれる、前記サンプルホールダー(10; 20; 30)。
IPC (4件):
G01N 35/02 ,  B01L 3/00 ,  G01N 35/00 ,  G01N 21/03
FI (5件):
G01N35/02 A ,  B01L3/00 ,  G01N35/00 A ,  G01N35/02 B ,  G01N21/03 Z
Fターム (26件):
2G057AA01 ,  2G057AA04 ,  2G057AA12 ,  2G057AA14 ,  2G057AB01 ,  2G057AB03 ,  2G057AB06 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA03 ,  2G057BB01 ,  2G057BB06 ,  2G057BB08 ,  2G057BC07 ,  2G057BD06 ,  2G057BD08 ,  2G057CA01 ,  2G057CB01 ,  2G057HA01 ,  2G058CA01 ,  2G058CA02 ,  2G058GA02 ,  2G058GA11 ,  2G058GD03 ,  4G057AB06 ,  4G057AB38
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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