特許
J-GLOBAL ID:201103023064714159

帯電解析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大澤 敬
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-204735
公開番号(公開出願番号):特開2001-033502
特許番号:特許第4046903号
出願日: 1999年07月19日
公開日(公表日): 2001年02月09日
請求項(抜粋):
【請求項1】感光体の表面に対して帯電ローラを接触又は近接させてその感光体を帯電させる帯電装置をシミュレーションする帯電解析装置であって、 データ入力部と、電界計算部と、結果表示部とからなり、前記電界計算部は前記帯電ローラのローラ層内部での2次元方向の電荷移動・移動項を考慮したオームの法則と、2次元ポアソン方程式と、パッシェンの放電則とを考慮した方程式により前記感光体上に蓄積される電荷量を算出する計算部であることを特徴とする帯電解析装置。
IPC (3件):
G06F 17/50 ( 200 6.01) ,  G03G 15/02 ( 200 6.01) ,  G03G 21/00 ( 200 6.01)
FI (3件):
G06F 17/50 680 A ,  G03G 15/02 ,  G03G 21/00
引用特許:
出願人引用 (4件)
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