特許

J-GLOBAL ID：201103023849603489

質量分析装置用データ収集システム

発明者： 田村 淳
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-107445
公開番号（公開出願番号）：特開2000-299083
特許番号：特許第3741563号
出願日： 1999年04月15日
公開日（公表日）： 2000年10月24日
請求項（抜粋）：

【請求項1】質量分析装置から出力されるデータをA/D変換器を介して並列に配置された複数のメモリーに振り分けながら収集してデータ処理を行なう質量分析装置用データ収集システムにおいて、 該質量分析装置用データシステムにおいて発生する時間に関する所定の周期分のノイズを取得して、このノイズをデータの異なる部分に対してデータから繰り返し差し引くことによって、データから時間に関する周期性を有するノイズを除去することを特徴とする質量分析装置用データ収集システム。

IPC (3件)：

H01J 49/26 ( 200 6.01) ,  G01N 27/62 ( 200 6.01) ,  H01J 49/40 ( 200 6.01)

FI (4件)：

H01J 49/26 ,  G01N 27/62 D ,  G01N 27/62 K ,  H01J 49/40

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-359023   出願人：株式会社島津製作所