蛍光X線分析計

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松下義治
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-168907
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356607
特許番号：特許第3926510号
出願日： 1999年06月15日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 X線を発生するX線発生手段と、前記X線発生手段から発生するX線光束の被測定試料への照射を遮蔽するシャッタと、前記シャッタを開閉するシャッタ駆動手段と、前記X線光束が被測定試料に照射された結果発生する二次X線を検出するX線検出手段と、測定開始を指示する測定開始指示手段と、からなる蛍光X線分析計において、前記被測定試料の外観及び前記被測定試料の近傍に配置した図形を光学的に読取る画像入力手段と、前記画像入力手段により取得された画像データを記憶する第1の記憶手段と、予め登録されている図形に関連するデータを記憶する第2の記憶手段と、前記第1の記憶手段に記憶された画像データと前記第2の記憶手段に記憶されている図形に関連するデータを比較するデータ比較手段と、蛍光X線分析計の設置状態を検出する状態検出手段と、を設けたことを特徴とする蛍光X線分析計。

IPC (1件)：

G01N 23/223 ( 200 6.01)

FI (1件)：

G01N 23/223

引用特許：

審査官引用 (11件)

ごみ処理施設における処理不適物検査システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-311681 出願人：株式会社日立メディコ
多重角度予備選別断層撮影装置及び方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-219368 出願人：アナロジックコーポレーション
照射室開放型X線分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-026408 出願人：理学電機工業株式会社

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