特許

J-GLOBAL ID：201103027815322486

量子回路

発明者： 富田 章久
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (3件)： 山下 穣平 ,  志村 博 ,  永井 道雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-230366
公開番号（公開出願番号）：特開2002-040505
特許番号：特許第3981969号
出願日： 2000年07月31日
公開日（公表日）： 2002年02月06日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 入射する2光子が4つのベル状態Φ(+)、Φ(-)、Ψ(+)及びΨ(-)のうちのいずれの状態にあるかを検出する量子回路において、 2光子を入射し、状態Φ(+)及び状態Φ(-)のうちの第1の状態の2光子を吸収する第1の2光子吸収結晶と、 前記第1の2光子吸収結晶での2光子の吸収を検出する第1の検出器と、 前記第1の2光子吸収結晶を通過した2光子を入射し、入射した2光子の状態Φ(+)及び状態Φ(-)のうちの第2の状態を前記第1の状態に変換する偏光要素と、 前記偏光要素を通過した2光子を入射し、前記第1の状態の2光子を吸収する第2の2光子吸収結晶と、 前記第2の2光子吸収結晶での2光子の吸収を検出する第2の検出器と、 前記第2の2光子吸収結晶を通過した2光子を入射し、状態Ψ(+)、状態Ψ(-)の2種類の状態を判別する線形光学素子と光子検出器から成る検出回路と、 を備えることを特徴とする量子回路。

IPC (6件)：

G02F 3/00 ( 200 6.01) ,  G01J 1/44 ( 200 6.01) ,  G01J 4/04 ( 200 6.01) ,  H01L 29/06 ( 200 6.01) ,  H01L 31/0232 ( 200 6.01) ,  H04B 10/00 ( 200 6.01)

FI (6件)：

G02F 3/00 501 ,  G01J 1/44 F ,  G01J 4/04 Z ,  H01L 29/06 ,  H01L 31/02 D ,  H04B 9/00 Z

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 光パルス幅測定装置及びそれを用いた光パルス幅測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-289298   出願人：キヤノン株式会社